书目信息 |
| 题名： |
微电子测试结构
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| 作者： | 孙沩 编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 上海 华东师范大学出版社 1984 |
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| 页数： | 177页 | |
| 开本： | 20cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN407 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微电子技术--测试 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 15135.003 | |
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| 微电子测试结构/孙沩等编.-上海：华东师范大学出版社，1984 |
| 177页：图；20cm |
| ISBN 15135.003：CNY1.00 |
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| 相关链接 |
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正题名：微电子测试结构
索取号：TN407/1
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 2000118637 | 2000118637 | 旧书回溯/ [索取号:TN407/1] | 在馆 | |
| 2 | 2000118638 | 2000118638 | 旧书回溯/ [索取号:TN407/1] | 在馆 | |
| 3 | 2000118639 | 2000118639 | 旧书回溯/ [索取号:TN407/1] | 在馆 | |
| 4 | 2000118640 | 2000118640 | 旧书回溯/ [索取号:TN407/1] | 在馆 | |
| 5 | 2000126288 | 2000126288 | 旧书回溯/ [索取号:TN407/1] | 在馆 |