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书目信息

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题名:
电子元器件可靠性设计
    
 
作者: 王蕴辉 主编
分册:  
出版信息: 北京   科学出版社  2007.09
页数: 514页
开本: 24cm
丛书名: 电子可靠性工程技术实践丛书
单 册:
中图分类: TN602
科图分类:
主题词: 电子元件
电子资源:
ISBN: 978-7-03-019638-5
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    电子元器件可靠性设计/王蕴辉等主编.-北京:科学出版社,2007.09
    514页;24cm.-(电子可靠性工程技术实践丛书)
    
    
    ISBN 978-7-03-019638-5:CNY49.90
    
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正题名:电子元器件可靠性设计     索取号:TN602/1         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 726178   2000726178   样本书库/样006架B面3层2列/ [索取号:TN602/1] 在馆    
2 726179   2000726179   中心书库中库/ 中库029架A面8列2层18/ [索取号:TN602/1] 在馆    
3 726180   2000726180   中心书库中库/ 中库029架A面8列2层17/ [索取号:TN602/1] 在馆    
4 726181   2000726181   中心书库中库/ 中库029架A面8列2层19/ [索取号:TN602/1] 在馆    
5 726182   2000726182   中心书库中库/ 中库029架A面8列4层7/ [索取号:TN602/1] 在馆    
6 726183   2000726183   中心书库中库/ 中库029架A面8列4层6/ [索取号:TN602/1] 在馆    
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