书目信息 |
| 题名: |
电子元器件可靠性设计
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| 作者: | 王蕴辉 主编 | |
| 分册: | ||
| 出版信息: | 北京 科学出版社 2007.09 |
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| 页数: | 514页 | |
| 开本: | 24cm | |
| 丛书名: | 电子可靠性工程技术实践丛书 | |
| 单 册: | ||
| 中图分类: | TN602 | |
| 科图分类: | ||
| 主题词: | 电子元件 | |
| 电子资源: | ||
| ISBN: | 978-7-03-019638-5 | |
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| 电子元器件可靠性设计/王蕴辉等主编.-北京:科学出版社,2007.09 |
| 514页;24cm.-(电子可靠性工程技术实践丛书) |
| ISBN 978-7-03-019638-5:CNY49.90 |
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正题名:电子元器件可靠性设计
索取号:TN602/1
 
预约/预借
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| 1 | 726178 | 2000726178 | 样本书库/样006架B面3层2列/ [索取号:TN602/1] | 在馆 | |
| 2 | 726179 | 2000726179 | 中心书库中库/ 中库029架A面8列2层18/ [索取号:TN602/1] | 在馆 | |
| 3 | 726180 | 2000726180 | 中心书库中库/ 中库029架A面8列2层17/ [索取号:TN602/1] | 在馆 | |
| 4 | 726181 | 2000726181 | 中心书库中库/ 中库029架A面8列2层19/ [索取号:TN602/1] | 在馆 | |
| 5 | 726182 | 2000726182 | 中心书库中库/ 中库029架A面8列4层7/ [索取号:TN602/1] | 在馆 | |
| 6 | 726183 | 2000726183 | 中心书库中库/ 中库029架A面8列4层6/ [索取号:TN602/1] | 在馆 |