书目信息 |
| 题名： |
光学薄膜厚度的光干涉测试方法
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| 作者： | 苏俊宏 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2019.09 |
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| 页数： | 166页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TH744.3 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 光学干涉仪--guang xue gan she yi--测试方法 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-062302-7 | |
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| 光学薄膜厚度的光干涉测试方法/苏俊宏著.-北京：科学出版社，2019.09 |
| 166页：图；24cm |
| ISBN 978-7-03-062302-7：CNY98.00 |
| 本书共7章, 主要介绍了光学薄膜常数及厚度的传统测量方法 ; 干涉法测量薄膜厚度原理 ; 干涉条纹小数部分重合法的基础上, 对干涉条纹测量薄膜厚度技术与方法进行说明 ; 通过快速傅里叶变换法对一幅静态干涉图的处理 ; 以相位偏移技术为基础, 借助干涉测试装置捕获动态干涉条纹, 通过一系列关键技术的引入实现动态干涉图的分析与处理, 从而获得薄膜厚度等。 |
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正题名：光学薄膜厚度的光干涉测试方法
索取号：TH744.3/1
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